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Avaliação teórica da reflectância em filmes finos AL/SiO2

Avaliação teórica da reflectância em filmes finos AL/SiO2

Paperback

Technology & Engineering

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ISBN10: 6203622257
ISBN13: 9786203622256
Publisher: Edicoes Nosso Conhecimento
Published: Apr 18 2021
Pages: 84
Weight: 0.30
Height: 0.20 Width: 6.00 Depth: 9.00
Language: Portuguese
A melhoria das propriedades ópticas de um material, como a reflectância, envolve a complexa busca dos parâmetros experimentais ideais no processo de obtenção dos mesmos. O uso de software computacional para a simulação destes processos de crescimento de película fina representa um benefício substancial devido à não dependência de um sistema real, bem como a possibilidade de explorar uma gama mais ampla de quantidades físicas envolvidas. Além disso, há uma necessidade na indústria automotiva, a Varroc Lighting Systems(c) recebeu a tarefa de melhorar a reflectância dos faróis aluminizados, por isso realizamos o desenvolvimento, utilizando o software NASCAM(R), que utiliza o método cinético Monte Carlo para desenvolver um modelo do sistema físico a ser estudado em escala nanométrica, isto nos permitirá analisar a influência de diferentes magnitudes que podem afetar a reflectância do material.

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