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Metrología Dimensional Aplicada a Superficies Activas en Telescopios: Alineación de la Superficie Reflectora Primaria del Gran Telescopio Milimétrico

Metrología Dimensional Aplicada a Superficies Activas en Telescopios: Alineación de la Superficie Reflectora Primaria del Gran Telescopio Milimétrico

Paperback

Technology & EngineeringProgramming

ISBN10: 366871505X
ISBN13: 9783668715059
Publisher: Grin Verlag
Published: Jun 7 2018
Pages: 76
Weight: 0.24
Height: 0.18 Width: 5.83 Depth: 8.27
Language: Spanish
Informe Técnico del año 2017 en eltema Ingeniería - Ingeniería informática, Idioma: Español, Resumen: El propósito principal de esta memoria es evidenciar la experiencia profesional obtenida en el transcurso de 9 años colaborando como Técnico Metrólogo en el Instituto Nacional de Astrofísica Óptica y Electrónica (INAOE). El objetivo principal de la colaboración con el INAOE fue la alineación de la superficie reflectora primaria del Gran Telescopio Milimétrico Alfonso Serrano (GTM), mediante una máquina de medición por coordenadas (MMC).

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