• Open Daily: 10am - 10pm
    Alley-side Pickup: 10am - 7pm

    3038 Hennepin Ave Minneapolis, MN
    612-822-4611

Open Daily: 10am - 10pm | Alley-side Pickup: 10am - 7pm
3038 Hennepin Ave Minneapolis, MN
612-822-4611
Techniki radzenia sobie z wyciekiem w ostatnim etapie i dynamicznym spadkiem IR

Techniki radzenia sobie z wyciekiem w ostatnim etapie i dynamicznym spadkiem IR

Paperback

Technology & Engineering

ISBN10: 6209330452
ISBN13: 9786209330452
Publisher: Wydawnictwo Nasza Wiedza
Published: Dec 3 2025
Pages: 108
Weight: 0.34
Height: 0.26 Width: 6.00 Depth: 9.00
Language: Polish
W niniejszej monografii omówiono problemy związane z mocą rozpraszaną, integralnością zasilania spowodowaną zapasowymi ogniwami oraz szczytowym spadkiem IR. Zakres proponowanego rozwiązania obejmuje poziom projektowania fizycznego zbliżony do zamknięcia projektu, gdzie narzędzia optymalizacyjne mają ograniczone zasoby do rozwiązania tych problemów. Istnieje jednak wiele możliwości dalszych prac w innych obszarach o niskim spektrum PM, takich jak poziom obwodów, poziom architektury, poziom projektowania i poziom kodowania oprogramowania. Większośc wspólczesnych projektantów pólprzewodników nie jest zainteresowana najnowszymi technikami, takimi jak przeplywy ECO macierzy bramek przy użyciu zestawów ECO dostarczanych przez dostawców bibliotek, ze względu na wysilek związany z modyfikacją istniejących przeplywów i napięte harmonogramy projektowania. Proponowana technika optymalnego przypisywania stanów może pomóc w zmniejszeniu uplywu energii w komórkach zapasowych bez wplywu na przeplywy projektowe, ale przejście na te nowe techniki pomoże w calkowitej redukcji uplywu energii w komórkach zapasowych. Innym możliwym obszarem przyszlych badań jest wykorzystanie bibliotek 65 nm, 45 nm, 32 nm i 28 nm do implementacji różnych architektur o intensywnym przeplywie danych w celu walidacji proponowanej techniki selektywnej redukcji zaklóceń.

Also from

S. Murti Sarma, N.

Also in

Technology & Engineering