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Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

Paperback

General ComputersProgramming

ISBN10: 3867461945
ISBN13: 9783867461948
Publisher: Examicus Verlag
Published: Jan 18 2013
Pages: 96
Weight: 0.30
Height: 0.23 Width: 5.83 Depth: 8.27
Language: German
Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Grö enordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Grö en wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.

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