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Perda de massa induzida pelo feixe de eletrões em materiais sensíveis

Perda de massa induzida pelo feixe de eletrões em materiais sensíveis

Novotná, Veronika

Paperback

Chemistry

ISBN10: 6630307658
ISBN13: 9786630307658
Publisher: Edicoes Nosso Conhecimento
Published: Jul 22 2026
Pages: 124
Weight: 0.39
Height: 0.29 Width: 6.00 Depth: 9.00
Language: Portuguese
A microscopia eletrónica de transmissão de varrimento (STEM) de baixa tensão é um método muito interessante, mas pouco conhecido, com grande potencial para a análise de materiais sensíveis. Este livro centra-se na perda de massa do material causada pelo feixe de eletrões neste microscópio. Os materiais analisados foram meios de inclusão puros (Epon, Spurr, LR White) e uma amostra biológica - Euglena gracilis - incluída nesses meios. As amostras de diferentes espessuras foram examinadas utilizando diferentes configurações do microscópio (tensão de aceleração, dose total, corrente da sonda, limpeza por plasma) e os modos de imagem do STEM (campo claro, campo escuro). As imagens recolhidas, os algoritmos criados e os resultados obtidos são amplamente discutidos e apoiados por gráficos e tabelas. É apresentada uma sugestão de um experimento ideal de acordo com os dados medidos. O livro apresenta uma descrição dos princípios físicos do TEM, do SEM e do STEM, bem como a sua adequação à observação de amostras sensíveis aos eletrões. É também discutida a interação entre o feixe de eletrões e a amostra, bem como a preparação da amostra para o STEM. Está igualmente incluída uma breve descrição do processamento básico de imagens microscópicas, com uma secção sobre uma comparação quantitativa das imagens STEM.

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