• Open Daily: 10am - 10pm
    Alley-side Pickup: 10am - 7pm

    3038 Hennepin Ave Minneapolis, MN
    612-822-4611

Open Daily: 10am - 10pm | Alley-side Pickup: 10am - 7pm
3038 Hennepin Ave Minneapolis, MN
612-822-4611
Utrata masy materialów wrażliwych wywolana dzialaniem wiązki elektronów

Utrata masy materialów wrażliwych wywolana dzialaniem wiązki elektronów

Paperback

Chemistry

ISBN10: 6630294858
ISBN13: 9786630294859
Publisher: Wydawnictwo Nasza Wiedza
Published: Jul 22 2026
Pages: 128
Weight: 0.40
Height: 0.30 Width: 6.00 Depth: 9.00
Language: Polish
Mikroskopia transmisyjna skaningowa niskonapięciowa (STEM) to bardzo interesująca, choc malo znana metoda, która ma ogromny potencjal w badaniu materialów wrażliwych. Niniejsza książka skupia się na utracie masy materialu spowodowanej dzialaniem wiązki elektronów w tym mikroskopie. Analizowanymi materialami byly czyste środki do osadzania próbek (Epon, Spurr, LR White) oraz próbka biologiczna - Euglena gracilis osadzona w tych środkach. Próbki o różnej grubości badano przy użyciu różnych ustawień mikroskopu (napięcie przyspieszające, dawka calkowita, prąd sondy, czyszczenie plazmowe) oraz trybów obrazowania STEM (jasne pole, ciemne pole). Zebrane obrazy, opracowane algorytmy i uzyskane wyniki zostaly szczególowo omówione i poparte wykresami oraz tabelami. Przedstawiono propozycję idealnego eksperymentu opartego na zmierzonych danych. W książce zawarto opis zasad fizycznych dzialania mikroskopów TEM, SEM i STEM oraz ich przydatności do obserwacji próbek wrażliwych na dzialanie elektronów. Omówiono również interakcję między wiązką elektronów a próbką, a także przygotowanie próbek do badania metodą STEM. Zamieszczono również krótki opis podstawowego przetwarzania obrazów mikroskopowych wraz z rozdzialem poświęconym ilościowemu porównaniu obrazów STEM.

Also in

Chemistry