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Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells

Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells

Hardcover

Physics

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ISBN10: 3527339922
ISBN13: 9783527339921
Publisher: Wiley-Vch
Published: Oct 17 2016
Pages: 760
Weight: 4.20
Height: 1.80 Width: 6.90 Depth: 9.80
Language: English
Dieses Fachbuch behandelt moderne Verfahren zur Charakterisierung von Dünnschicht-Solarzellen. Diese Verfahren sind für die Photovoltaik-Forschung und -Entwicklung relevant, sowohl im wissenschaftlichen Bereich als auch bei Unternehmen. Nach einer Einführung in die Dünnschicht-Photovoltaik erläutern Experten Methoden für die Geräte- und Materialcharakterisierung, wie die Elektrolumineszenz-Analyse, die Kapazitätsspektroskopie sowie verschiedene mikroskopische Verfahren. Am Ende des Buches werden Simulationstechniken vorgestellt, die für ab-initio-Berechnungen entsprechender Halbleiter und für Gerätesimulationen in bis zu 3 Dimensionen verwendet werden.

Diese neue Auflage baut auf einem bewährten Konzept auf und beschäftigt sich auch mit transienten optoelektronischen Methoden und der Fotostrom-Spektroskopie, der Charakterisierung des Dünnschichtwachstums in Echtzeit und vor Ort sowie mit Simulationen auf Basis der Molekulardynamik.

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Physics